温控样品池支架（光谱分析用） - Pinnacle Scientific (China) Limited

精确温度制冷控制：-10.00 to +105.00?^oC(±0.02?^oC)

(特殊产品可降至-55.00?^oC或者升至+150.00?^oC)

??????产品特点：

?制冷控制可实现快速、准确地温度控制
?快速提升温度，然后缓慢靠近设置区域
?工作温度范围非常宽
?能够自动改变温度
?电磁搅拌使样品更加均匀
?多样品池支架并且实现样品自动转换
?热敏探头记录样品内部温度

qpod^TM?光纤光谱仪配套样品池支架

qpod^TM?样品池支架应用于光纤光谱仪，包括带电磁搅拌的Peltier控制的样品池支架。qpod^TM?样品池支架通过SMA905光纤接头与光源或者光谱仪相连接。具有如下特点：

? 高品质的石英透镜，紫外增强反射镜和偏振片
? 光学部件的焦距和位置可调
? 光学狭缝用于控制进入样品室的光能
? 12.5mm直径的滤光片支架用于安装透镜组件
? 速度可调电磁搅拌

qpod^TM?样品池支架有CUV-qpod-ABSKIT、CUV-qpod-FLKIT和CUV-qpod-MPKIT三款样式。CUV-qpod-ABSKIT提供准直光，用于吸取测试、透射测试或者浊度测试。CUV-qpod-FLKIT提供直角成像透镜系统，用于荧光测试。CUV-qpod-MPKIT是一款多用途的光学支架，可以用于吸取测试或荧光测试。滤光片和偏光镜架可选配。

TLC 40?用于吸取测量的单样品池支架

TLC 40样品池支架主要应用于吸取光谱测量，在放置比色皿两旁有两个光学端口。具有如下特点：

? 可以满足各种不同的分光光谱仪
? 可调电磁搅拌确保样品均匀
? 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝
? 工作于较低温度条件，可选窗口翻盖

TLC 42?用于双光束光谱仪的两样品池支架

TLC 42为双光束样品池支架，类似于两个单独控制的TLC40单样品池支架。具有如下特点：

? 采样与参考可以是相同或不同温度
? 每个样品池支架具有电磁搅拌
? 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝
? 工作于较低温度条件，可选窗口翻盖

TLC 50?用于荧光测量的两样品池支架

TLC 50样品池支架主要应用于荧光光谱测量，在放置比色皿四面均有光学端口。具有如下特点：

? 可以满足各种不同的荧光光谱仪
? 包括一套可选狭缝，以控制激光发射强度
? 可调电磁搅拌确保样品均匀
? 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝

TURRET 4用于吸取和荧光测量的四位旋转样品池支架

TURRET 4样品池支架可以应用于吸取光谱和荧光光谱测量，可以实现四位旋转。具有如下特点：

? 可以满足各种不同的分光光谱仪和荧光光谱仪
? 包括一套可选狭缝
? 可调电磁搅拌确保样品均匀
? 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝
? 四位对称相同，保证分析样品一致

FLASH 300?用于激光测试的样品池支架

FLASH 300样品池支架非常适用于激光测试，可以应用于瞬态吸取、荧光和脉冲激光测试。在放置比色皿四面均有光学端口。具有如下特点：

? ?垂直调整，可以与激光束的高度相匹配
? ?水平微控制器驱动，可以将激光束准确定位在比色皿中
? ?插销可移除，以实现与比色皿直接接触
? ?可调电磁搅拌确保样品均匀
? ?工作于低温条件，可用干气体减少冷凝
? ?工作于较低温度条件，可选窗口翻盖

CD 250?用于圆形二色性测试的样品池支架

CD 250样品池支架用于圆形二色性测试。具有如下特点：

?根据不同比色皿，可以定制不同支架
?可调电磁搅拌确保样品均匀
?工作于低温条件，可用干气体减少冷凝
?通过热交换充入气体，以隔离外部空气
?无应变石英窗片用于隔离比色皿，更好地控制温度，特别是对于短光程比色皿
?用于激发光的90度端口可选，以实现荧光测试

qCHANGER 6用于线性可选吸取测试的样品池支架

qCHANGER 6是Quantum Northwest最新的样品池支架产品，具有线性可选的6位比色皿样品架，应用于吸取测试。具有如下特点：

?马达驱动选择6位样品架
?每一样品架狭缝开口可选
?可调电磁搅拌确保样品均匀
?工作于低温条件，可用干气体减少冷凝

温度控制器

TC 125温度控制器具有如下特点：

美国NIST校准标准
标准热敏探头监控样品温度
可实现远程控制

每个温控样品池支架均包括一个基于微计算机的温度控制器。对于特殊样品池支架进行增益设置，并且由NIST标准的温度计进行校准。

对于单样品池支架，比如TLC 40，TLC 50，FLASH 300和CD 250，选择TC 125温度控制器。

对于双样品池支架，比如TLC 42，选择TC225温度控制器，以实现对两个试管进行独立控制。

对于四位旋转样品池支架，比如TURRET 400，选择TC 425温度控制器，该控制器前面板中有对应位置的控制按钮。

对于线性可选六位样品池支架，比如LC 600，选择TC 125温度控制器，并由外部控制App来实现样品移动。

所有温度控制器均提供外部温度传感探头，以实现样品温度的监控。温度控制器可以与标准400系列和500系列的热敏探头。

温度控制器可以通过USB通讯线与计算机相连。如果想要实现远程控制，可以选配QNW系列控制选项。

产品选择引导

温度范围

标准化产品的温度控制范围为-10 to +105?^oC（±0.02?^oC），特殊样品池支架可以定制。低于-10?^oC时，就需要通入干气体已降低样品池支架窗口的冷凝。如果需要更低的温度，请来电详细咨询。

高温操作

如果TLC 40或者TLC 50型号后面带有/E标志，可用于高于105?^oC的环境。此时，需要温度控制器中特殊固件来实现样品池支架底部热敏组件的转换。虽然不应该长期在高温环境中使用，但是高至150?^oC还是可能的。

外部串行控制

通过与电脑连接的串行通讯线可以对温度控制器进行控制。除非特别说明，否则提供的是标准USB连接线。通过温度控制器前面板中的控制按钮，外部串行控制能够实现文件说明功能，包括：作图、温度提升、脚注功能。当选配SER 2.2时，TC 125温度控制器可以通过USB通讯线来实现计算机控制。SER 2.2组件包括Windows程序、QNW串行控制，主窗口如图所示。在主窗口中，可以设置温度、调整温度、电磁搅拌控制，并且可以收集探头和样品池支架的温度。

BATH 10